ASTM D645 纸和纸板厚度测试 测厚仪

在纸张和纸板的生产、加工以及质量控制过程中，jingque测量其厚度是一项至关重要的环节。ASTM D645 作为国际通用的纸和纸板厚度测试方法，提供了极为详细的测试流程与技术规范，为行业内的厚度测量工作奠定了坚实的标准基础。济南三泉中石的 CHY-S 测厚仪以其zhuoyue的性能，成为了满足 ASTM D645 标准要求的理想设备。我们将深入探讨 ASTM D645 标准的具体内容，并详细介绍 CHY-S 测厚仪是如何与之完美契合的。

ASTM D645 标准详解

1. 适用范围

ASTM D645 标准适用于除电绝缘纸之外的各种纸张和纸板厚度的测定。需要注意的是，由于该测试方法使用相对较高的压力 50 kPa (7.3 psi)，对于组织或其他柔软、低密度材料而言，可能并不适用，因为在该压力下，材料结构可能会受到影响。

2. 测试环境要求

• 温度：需控制在 23 ± 2℃。

• 湿度：应保持在 50 ± 10% RH。

在此环境条件下进行测量，能够大程度确保测试数据的准确性和一致性。

3. 样品要求

• 样品尺寸：至少为 25 mm × 25 mm。

• 样品数量：不少于 10 个，以此确保测试具备统计有效性。

• 样品状态：需在规定的温湿度环境下平衡至少 24 小时，使样品达到稳定状态，避免因环境因素导致测量误差。

4. 测试原理

采用接触式测试原理，利用特定压力和接触面积对样品进行厚度测量，这种方式保证了测试过程的科学性和标准化。在规定压力下，测厚仪测量头与样品表面接触，通过测量头的位移来确定样品的厚度值。

5. 测试步骤

• 设备校准：按照 ASTM D645 要求，对测厚仪的压力、接触面积、精度等关键参数进行校准，确保设备符合规定标准。

• 样品放置：将样品平整地置于测量平台上，务必避免样品出现弯曲或起皱的情况，否则会对测量结果产生较大偏差。

• 测量操作：启动测厚仪，测量头自动降落至样品表面，待测量头与样品稳定接触后，记录此时显示的厚度值。

• 数据记录：每个样品需测量至少 3 个不同位置，计算这些测量值的平均值并记录下来，通过多次测量取平均值的方式，能够有效减少测量误差，提高数据的可靠性。

6. 测试数据要求

根据 ASTM D645 标准，测试数据需包含平均厚度等关键信息，以便全面、准确地反映样品的厚度情况。对于测量数据的精度和准确性也有严格要求，确保测试结果能够满足实际生产和质量控制的需求。

济南三泉中石 CHY-S 测厚仪

1. 仪器概述

CHY-S 测厚仪主要适用于薄膜、复合膜、纸张、金属箔片、硬片、纸板等硬质和软质材料厚度的准确测量。其分辨率高达 1μm，能够提供高精度的测量结果，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位，在材料厚度测量领域发挥着重要作用。

2. 测试原理

该测厚仪采用接触式测试原理，与 ASTM D645 标准的测试原理一致。具体操作时，截取一定尺寸的试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积来测试出试样的厚度值。在测量过程中，测量头与样品表面充分接触，通过高精度的传感器将测量头的位移转化为厚度数据，并准确显示在仪器屏幕上。

3. 仪器特点

• 彩色大液晶显示：直观清晰地展示测试结果，包括每次测量值、统计值等，方便操作人员读取和记录数据。

• 触摸屏控制：无需借助计算机，主机即可独立操作，极大地简化了操作流程。可存储、查询测试结果，避免了每次测试都必须链接电脑的繁琐过程，提高了工作效率。

• 配备微型打印机：能够快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值，便于及时获取纸质记录，方便数据的整理和保存。

• 数据存储功能：仪器自动保存不少于 500 组测试结果，用户可随时查看并打印过往数据，为长期的质量监控和数据分析提供了有力支持。

• 测试软件功能强大：提供测试结果图形统计分析功能，将测试结果以直观的图形方式展示给用户，有助于用户更清晰地了解数据分布情况，及时发现潜在问题。

• 标准接口配备：配备标准 RS232 接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输，便于将测试数据导入的数据分析软件进行进一步处理和分析。

• 在线升级功能：系统程序具备 ISP 在线升级功能，可根据用户需求提供个性化服务，确保仪器始终保持佳性能状态，适应不断变化的测试需求。

4. 基于 ASTM D645 标准的操作流程

• 设备初始化：在进行测试前，确保 CHY-S 测厚仪已经校准完毕，各项参数设置符合 ASTM D645 标准要求，包括测量压力、接触面积等关键参数。

• 样品准备：按照 ASTM D645 标准，准备好尺寸、数量以及状态均符合要求的样品。将样品在规定的温湿度环境下平衡至少 24 小时，确保样品状态稳定。

• 测量操作：将样品平整放置在测厚仪的测量平台上，启动测厚仪，测量头自动降落至样品表面进行测量。每个样品按照标准要求测量至少 3 个不同位置，并记录每次的测量值。

• 结果分析：对测量得到的数据进行统计分析，计算平均值等统计量，确保测量结果符合 ASTM D645 标准的精度要求。通过仪器自带的数据分析功能或与电脑连接后使用软件进行分析，可进一步挖掘数据价值，为产品质量改进提供依据。

ASTM D645 标准为纸和纸板厚度的测量提供了全面、严格且科学的规范，从测试环境、样品要求到测试步骤以及数据处理等各个环节都有明确的规定，有力地保障了测量结果的准确性和可重复性。而济南三泉中石的 CHY-S 测厚仪凭借其先进的技术、zhuoyue的性能以及便捷的操作方式，能够完美地满足 ASTM D645 标准的各项要求。无论是在生产企业的质量控制环节，还是在质检机构的检测工作中，CHY-S 测厚仪都能够为纸和纸板厚度的jingque测量提供可靠的解决方案，助力行业提升产品质量，推动行业健康发展。