薄膜数显测厚仪 铝膜厚度测量仪 片材台式测厚仪
在现代工业生产中，薄膜材料的应用日益广泛，从包装材料到电子产品的保护膜，薄膜的质量和性能直接影响到Zui终产品的品质。薄膜的厚度是其物理性能的重要指标之一，对薄膜进行准确的厚度测量是保证产品质量的重要步骤。
为什么需要对薄膜进行测厚测试？
薄膜的厚度不仅关系到其保护性能，还影响着其透光性、透气性等物理特性。例如，在食品包装领域，薄膜的厚度可以决定其对氧气和水分的阻隔能力，进而影响到食品的保质期。在电子行业，薄膜的厚度则关系到电子器件的绝缘性能和稳定性。对薄膜进行准确的厚度测量，可以确保材料的性能符合设计要求，提高产品的可靠性和安全性。
为什么选择薄膜数显测厚仪？
济南三泉中石的薄膜数显测厚仪，以其高效、准确、稳定的特点，成为薄膜厚度测量的工具。以下是选择台式薄膜测厚仪的几个主要原因：
高精度测量：采用高精度位移传感器，确保测量结果的准确性。
稳定性和重复性：通过科学的结构设计和高精测控控制技术，保证了测量过程的稳定性和重复性。
适用性广泛：适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等多种材料的厚度测量。
符合标准要求：严格执行机械接触式测厚相关标准，确保测量结果的可靠性。
薄膜数显测厚仪的工作原理
薄膜数显测厚仪采用机械接触式测量原理，通过位移传感器检测薄膜在受压时的位移变化，从而计算出薄膜的厚度。这种测量方式具有以下特点：
接触式测量：直接与薄膜接触，避免了空气间隙等非接触式测量可能带来的误差。
结构设计：仪器的结构设计保证了测量时的稳定性，减少了外部因素对测量结果的影响。
控制技术：高精测控技术确保了测量过程的控制，提高了测量的重复性。
薄膜数显测厚仪的应用范围
产品名称 | 适用范围 |
薄膜 | 用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量。 |
铝箔 | 对金属箔片等硬质材料厚度测量。 |
太阳能硅片 | 接触式测试原理更有效的检测出太阳能硅片上每个点的厚度值。 |
纸张 | 通过调节测量头可完整纸张规定的压力和面积，完整各种纸张、纸板材料厚度测试。 |
技术参数
测量范围 0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 0.1um
测量速度 10次/min（可调）
测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）
接触面积 50mm²（薄膜），200mm²（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种
进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调)
进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调)
机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高)
重 量 23Kg
工作温度 15℃-50℃
相对湿度 80%,无凝露
试验环境 无震动，无电磁干扰
工作电源 220V 50Hz
济南三泉中石的薄膜数显测厚仪以其高精度、稳定性和广泛的适用性，在薄膜材料的厚度测量中发挥着重要作用。它不仅提高了生产过程中的质量控制水平，也为产品的Zui终性能提供了保障。随着工业技术的发展和产品质量要求的提高，台式薄膜测厚仪将继续作为薄膜测量领域的重要工具，为各行各业提供可靠的测量解决方案。
薄膜数显测厚仪 铝膜厚度测量仪 片材台式测厚仪
此为广告