蔡司工业测量技术部是生产和供应多维测量实验室、数控三坐标测量机和解决方案的带头者。该公司是汽车行业公认的合作伙伴和供应商。在四个国家的生产基地和全球100 多个销售和服务点，一共拥有 2,400 名员工。蔡司所提供的产品包括桥式、悬臂和在线测量机，用于三维的光学和接触式测量机和用于工业的电脑断层扫描技术。
工业CT是工业用计算机断层成像技术的简称，它能在对检测物体无损伤的条件下，以二维断层图像或三维立体图像的形式，清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况，被誉为当今*佳无损检测和无损评估技术。
随着工业产品越来越在追求高质量的加快新产品上市的周期，对于检测手段及方式有着更高的挑战。这里，我们介绍如何利用工业CT完成某款产品的全尺寸测量。以该产品为例，要求是完成总计700多个尺寸检测，其中FAI尺寸将近300余个。(FAI=FirstArticle Inspection 检测)，按照传统使用三坐标测量机，编程时间往往需要将近两周时间，单件产品的测量需要半天。
通过工业CT扫描生成体积文件，使用 FAI尺寸编程+非FAI尺寸数模比对两种分析方式，可以将编程时间缩短一半，单件检测时间减少至10分钟。极大地提高了产品检测效率，从而加速新产品上市速度。对标传统三坐标机测量的方式，工业CT的误差在可接受的范围内。足以证明其方式的稳定性、可靠性。
借助易于使用的ZEISS METROTOM1的蔡司工业CT技术，只需一次扫描，任何人都能有效完成复杂的测量和检查任务。测量并检测接触式或光学测量系统无法检测到的隐藏缺陷和内部结构。另一个巧妙之处在于ZEISSMETROTOM 1的尺寸。由于体积小，CT扫描系统很容易便能放置于您的测量实验室之中，可以一次性完成内部测量和检查。
一个蔡司工业CT系统，兼具多种优势
- 操作简便，安装过程简单，只需少量培训
- 的测量，可进行准确的数模比对、尺寸检查和壁厚分析
- 占地面积小，非常紧凑，适合任何测量实验室
蔡司工业CT系统特别适用于需要进行全尺寸检测的产品，提供高效、的测量和检查服务，节约时间和成本。每件产品的测量时间大大减少，达到了全新的测量标准。山东蔡司X射线断层扫描授权代理商为您提供蔡司新一代的工业CT设备，品牌为蔡司，产地为德国，型号为METROTOM。售价为3000000.00元/件。
无论您是在汽车行业、航空航天领域、电子设备制造等工业领域，或是需要进行产品研发、等环节，山东蔡司X射线断层扫描授权代理商都能为您提供的工业CT解决方案，助力您的业务发展。
常见问题解答
- 工业CT是否会对被检测物体造成损伤？
工业CT在对被检测物体进行扫描时不会造成任何损伤，它采用非接触式的成像技术，能够清晰展示被检测物体的内部结构和缺陷状况。 - 为什么要选择蔡司工业CT设备？
蔡司是的测量技术和解决方案提供商，拥有多年的行业经验和知识。蔡司的工业CT设备具有高精度、易于使用和占地面积小的特点，能够满足各种工业领域的测量需求。
无论您是追求高质量的产品检测还是加速新产品上市的需求，蔡司工业CT设备都能为您提供可靠、高效的解决方案。请联系山东蔡司X射线断层扫描授权代理商，了解更多关于工业CT的信息，并获取适合您需求的解决方案。
基于蔡司工业CT-METROTOM的工业计算机断层扫描（CT）
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对性的高要求。
蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描（CT）系统蔡司工业CT测量机METROTOM1500工业CT三维断层扫描极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。，您可以使用面向未来的质量控制。
蔡司工业CT测量机METROTOM 1500工业CT三维断层扫描特性
1.看得更多
在第三代系统中，新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集，即更多体素可以检测到更小的缺陷。
2.扫描更快
通过检测器的不同操作模式，扫描时间可减少多达75％，获得与2k检测器相当的体素尺寸。
3.测量与检验整体部件
蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统，用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
4.轻松且地进行多样化特征检测
利用蔡司METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，蔡司METROTOM获取海量测量点时，时间显著缩短。
5.直观简易的软件操作
仅需通过短时间的蔡司METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。通过蔡司CALYPSO和NEO软件，您可以评估CT数据，通过蔡司PiWeb，它们可以在一个测量报告中快速合并。